Top-Gate Short Channel Amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin Film Transistors with Sub-1.2 nm Equivalent Oxide Thickness

10.1109/jeds.2021.3116763

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Han, Kaizhen, Samanta, Subhranu, Sun, Chen, Gong, Xiao
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc. 2022
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/232154
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!