Top-Gate Short Channel Amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin Film Transistors with Sub-1.2 nm Equivalent Oxide Thickness
10.1109/jeds.2021.3116763
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
2022
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/232154 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|