Ion Beam Induced Charge imaging for the failure analysis of semiconductor devices

• المؤلفون الرئيسيون: Kolachina, S., Chan, D.S.H., Phang, J.C.H., Osipowicz, T., Sanchez, J.L., Watt, F.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/50630

Proceedings of the International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA