Effect of delamination on the thermal fatigue of solder joints in flip chips

Thermomechanical Phenomena in Electronic Systems -Proceedings of the Intersociety Conference

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ong, E.T., Tay, A.A.O., Wu, J.H.
مؤلفون آخرون: INSTITUTE OF MICROELECTRONICS
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/51702
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!