A general Weibull model for reliability analysis under different failure criteria - Application on anisotropic conductive adhesive joining technology

10.1109/TEPM.2005.856539

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Liu, J., Cao, L., Xie, M., Goh, T.-N., Tang, Y.
مؤلفون آخرون: INDUSTRIAL & SYSTEMS ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/54199
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!