Deformation measurement of a micro-rf capacitive switch membrane using laser interferometry

10.1117/1.1525795

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Quan, C., Wang, S.H., Tay, C.J., Liu, A.Q., Shang, H.M.
مؤلفون آخرون: MECHANICAL ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/59848
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!