Carbon nitride thin films deposited by nitrogen-ion-assisted KRF excimer ablation of graphite

Applied Surface Science

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Feng, L.Y., Min, R.Z., Qiao, N.H., Feng, H.Z., Chan, D.S.H., Seng, L.T., Yin, C.S., Gamani, K., Geng, C., Kun, L.
مؤلفون آخرون:	ELECTRICAL ENGINEERING
التنسيق:	مقال
منشور في:	2014
الموضوعات:	Carbon nitride Ellipsometry Laser ablation Raman spectroscopy Thin films XPS
الوصول للمادة أونلاين:	http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/61918
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة:	National University of Singapore

مواد مشابهة