Simulation of logarithmic time dependence of hot carrier degradation in PMOSFETs

• المؤلفون الرئيسيون: Ling, C.H., Samudra, G.S., Seah, B.P.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/62772

10.1088/0268-1242/10/12/016