Analysis of premature breakdown in high-power devices using IBIC microscopy

• المؤلفون الرئيسيون: Zmeck, M., Balk, L.J., Pugatschow, A., Niedernostheide, F.-J., Schulze, H.-J., Osipowicz, T., Watt, F., Phang, J.C.H., Khambadkone, A.M.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الموضوعات: Device characterization; Measurement; Power semiconductor device; Reliability; Simulation
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69400

2005 European Conference on Power Electronics and Applications