Detectivity optimization of ingaas photon emission microscope systems
10.1109/IPFA.2006.251053
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Tan, S.L., Yim, K.H., Chan, D.S.H., Phang, J.C.H., Zhou, Y., Balk, L.J., Chua, C.M., Koh, L.S. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69893 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
A near-infrared, continuous wavelength, in-lens spectroscopic photon emission microscope system
بواسطة: Tan, S.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
A review of near infrared photon emission microscopy and spectroscopy
بواسطة: Phang, J.C.H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Determination of intrinsic spectra from frontside & backside photon emission spectroscopy
بواسطة: Tan, S.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
New spectroscopic photon emission microscope system for semiconductor device analysis
بواسطة: Liu, Y.Y., وآخرون
منشور في: (2014) -
Determination of the local electric field strength by energy dispersive Photon Emission Microscopy
بواسطة: Geinzer, T., وآخرون
منشور في: (2014)