Near-IR photon emission spectroscopy on strained and unstrained 60 nm silicon nMOSFETs

• المؤلفون الرئيسيون: Tan, S.L., Ang, K.W., Toh, K.H., Isakov, D., Chua, C.M., Koh, L.S., Yeo, Y.C., Chan, D.S.H., Phang, J.C.H.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/71105

Conference Proceedings from the International Symposium for Testing and Failure Analysis