Subsurface imaging of multi-level integrated circuits using scanning electron acoustic microscopy

• المؤلفون الرئيسيون: Meng, L., Street, A.G., Phang, J.C.H.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/71899

Conference Proceedings from the International Symposium for Testing and Failure Analysis