Reliability prediction through degradation data modeling using a quasi-likelihood approach

Proceedings - Annual Reliability and Maintainability Symposium

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Jayaram, J.S.R., Girish, T.
مؤلفون آخرون: INDUSTRIAL & SYSTEMS ENGINEERING
التنسيق: Conference or Workshop Item
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72394
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore