Accurate characterization of thin films on rough surfaces by spectroscopic ellipsometry
10.1016/j.tsf.2013.07.067
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| 其他作者: | |
| 格式: | Article |
| 出版: |
2014
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| 主題: | |
| 在線閱讀: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/81928 |
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| 機構: | National University of Singapore |