Oxidation study of plasma-enhanced chemical vapor deposited and rf sputtered hydrogenated amorphous silicon carbide films

10.1063/1.1330252

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Choi, W.K., Lee, L.P., Foo, S.L., Gangadharan, S., Chong, N.B., Tan, L.S.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82856
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore