Structural and magnetoresistive properties of half metallic Co2Mn1-xSi thin films

Structural and magnetoresistive properties of half metallic Co2Mn1-xSi thin films

10.1016/j.jmmm.2006.01.136

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Li, K.B., Qiu, J.J., Luo, P., An, L.H., Guo, Z.B., Zheng, Y.K., Han, G.C., Wu, Y.H., Wang, S.J.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
Half metals
Heusler alloy
Magnetic tunneling junction
Thermal stability
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83093
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة

مواد مشابهة