Structural and magnetoresistive properties of half metallic Co2Mn1-xSi thin films

• المؤلفون الرئيسيون: Li, K.B., Qiu, J.J., Luo, P., An, L.H., Guo, Z.B., Zheng, Y.K., Han, G.C., Wu, Y.H., Wang, S.J.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الموضوعات: Half metals; Heusler alloy; Magnetic tunneling junction; Thermal stability
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83093

10.1016/j.jmmm.2006.01.136