Novel parallel plate condenser for single particle electrostatic force measurements in atomic force microscope

Novel parallel plate condenser for single particle electrostatic force measurements in atomic force microscope

10.1016/j.colsurfa.2011.06.008

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Kwek, J.W., Vakarelski, I.U., Ng, W.K., Heng, J.Y.Y., Tan, R.B.H.
مؤلفون آخرون: CHEMICAL & BIOMOLECULAR ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
Atomic force microscope
Electrostatic forces
Microparticles
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/89611
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore

مواد مشابهة

مواد مشابهة