Application of Bond-valence Modelling Method for Illustration of Point Defects in Semiconductors
Point defects in semiconductors cause many considerable behaviours of these materials. This article introduces a procedure for modelling of point defects using a structural approach often referred to as a bond-valence method. This method minimalizes the computation cost and facilitates a contruction...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | مقال |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
H. : ĐHQGHN
2018
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://repository.vnu.edu.vn/handle/VNU_123/62915 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| المؤسسة: | Vietnam National University, Hanoi |
| اللغة: | English |