Study of the mask-less lithography system and its optimization for high resolution pattern of negative photoresist

This dissertation reveals the optimal UV conditions for DMD-based maskless lithography system using SU-8 3010 and SU-8 3050 as photoresists. For SU-8 3010 under 10x and 20x lens, the optimal UV conditions are 60% and 80% UV intensity, 400 seconds and 75 seconds of UV exposure duration. For SU-8 3050...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Yuan, Chenjie
مؤلفون آخرون: Lee Seok Woo
التنسيق: Thesis-Master by Coursework
اللغة:English
منشور في: Nanyang Technological University 2024
الموضوعات:
DMD
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/177629
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English