Development of amorphous silicon carbide semiconductor thin films for optoelectronic device applications

Its primary objective was to investigate the use of the electron cyclotron resonance chemical vapour deposition (ECR-CVD) technique to deposit amorphous and microcrystalline hydrogenated silicon carbide films (SiC:H) with a view for the eventual use of such films for optoelectronic applications.

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Yoon, Soon Fatt.
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: Research Report
منشور في: 2008
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/3016
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!