Characterizations of GaN-based high-electron-mobility-transistors (hemts)
Studies on the characteristics of AlGaN/GaN high-electron-mobility transistor (HEMTs) were performed based on the interest of understanding and evaluation of the device performance. This report will focus on the studies of drain current collapse issue on the GaN based HEMTs under the influence of di...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
2012
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/47701 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
كن أول من يترك تعليقا!