Characterizations of GaN-based high-electron-mobility-transistors (hemts)

Studies on the characteristics of AlGaN/GaN high-electron-mobility transistor (HEMTs) were performed based on the interest of understanding and evaluation of the device performance. This report will focus on the studies of drain current collapse issue on the GaN based HEMTs under the influence of di...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Wong, Wei Jie.
مؤلفون آخرون: Ng Geok Ing
التنسيق: Final Year Project
اللغة:English
منشور في: 2012
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/47701
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English