A fast non-Monte-Carlo yield analysis and optimization by stochastic orthogonal polynomials
Performance failure has become a significant threat to the reliability and robustness of analog circuits. In this article, we first develop an efficient non-Monte-Carlo (NMC) transient mismatch analysis, where transient response is represented by stochastic orthogonal polynomial (SOP) expansion unde...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Tan, Sheldon X. D., Ren, Junyan, He, Lei, Gong, Fang, Liu, Xuexin, Yu, Hao |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Electrical and Electronic Engineering |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2012
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/95526 http://hdl.handle.net/10220/8763 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Monte Carlo simulation of the neutron monitor yield function
بواسطة: P. S. Mangeard, وآخرون
منشور في: (2018) -
A Monte Carlo Investigation of Some Tests for Stochastic Dominance
بواسطة: TSE, Yiu Kuen, وآخرون
منشور في: (2000) -
A Monte Carlo Investigation of Some Tests for Stochastic Dominance
بواسطة: TSE, Yiu Kuen, وآخرون
منشور في: (2004) -
Circuit performance and yield optimization with worst-case and Monte Carlo analyses
بواسطة: Lan, C.S., وآخرون
منشور في: (2014) -
Reliable and fast estimation of recombination rates by convergence diagnosis and parallel Markov Chain Monte Carlo
بواسطة: Guo, Jing, وآخرون
منشور في: (2013)