A fast non-Monte-Carlo yield analysis and optimization by stochastic orthogonal polynomials

Performance failure has become a significant threat to the reliability and robustness of analog circuits. In this article, we first develop an efficient non-Monte-Carlo (NMC) transient mismatch analysis, where transient response is represented by stochastic orthogonal polynomial (SOP) expansion unde...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Tan, Sheldon X. D., Ren, Junyan, He, Lei, Gong, Fang, Liu, Xuexin, Yu, Hao
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2012
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/95526
http://hdl.handle.net/10220/8763
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English

مواد مشابهة