Evaluation of commercial electroless nickel chemicals for a low cost wafer bumping process
10.1088/0268-1242/17/9/302
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Lu, H., Kang, C.L., Wong, S.C.K., Gong, H. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | MATERIALS SCIENCE |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/107031 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
WAFER LEVEL ELECTROLESS COPPER METALLIZATION AND BUMPING PROCESS, AND PLATING SOLUTIONS FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND MICROCHIP
بواسطة: LU, HAIJING, وآخرون
منشور في: (2012) -
WAFER LEVEL ELECTROLESS COPPER METALLIZATION AND BUMPING PROCESS, AND PLATING SOLUTIONS FOR SEMICONDUCTOR WAFER AND MICROCHIP
بواسطة: LU, HAIJING, وآخرون
منشور في: (2012) -
Effects of immersion zincation to the electroless nickel under-bump materials in microelectronics packaging
بواسطة: Ng, Wei-Chin, وآخرون
منشور في: (2014) -
Study of the interfaces between electroless nickel under bump metallization and lead-free solders
بواسطة: He, Min.
منشور في: (2008) -
Inspection of micro-solderballs on a semiconductor bumped wafer using optical shadowgraph
بواسطة: Tay, C.J., وآخرون
منشور في: (2014)