STUDYING THE METAL/LAYERED SEMICONDUCTOR SCHOTTKY INTERFACE USING TEMPERATURE DEPENDENT CURRENT-VOLTAGE MEASUREMENTS AND BALLISTIC ELECTRON EMISSION MICROSCOPY

• المؤلف الرئيسي: WONG PEI YU CALVIN
• مؤلفون آخرون: DEAN'S OFFICE (NGS FOR INTGR SCI & ENGG)
• التنسيق: Theses and Dissertations
• اللغة: English
• منشور في: 2018
• الموضوعات: BEEM, I-V-T, TMDC, MoS2, WS2, Schottky barrier
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/142817
• المؤسسة: National University of Singapore

Ph.D