Direct extraction of substrate network parameters for RF MOSFET modeling using a simple test structure
10.1109/LED.2005.863132
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Mahalingam, U., Rustagi, S.C., Samudra, G.S. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/55647 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Characterization and modeling of MOSFETS for RF applications
بواسطة: MAHALINGAM UMASHANKAR
منشور في: (2010) -
Low noise RF MOSFETs on flexible plastic substrates
بواسطة: Kao, H.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Low noise and high gain RF MOSFETs on plastic substrates
بواسطة: Kao, H.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Strained silicon substrate technologies for enhancement of transistor performance
بواسطة: Mei, P., وآخرون
منشور في: (2016) -
Equivalent circuit model of on-wafer CMOS interconnects for RFICs
بواسطة: Shi, X., وآخرون
منشور في: (2014)