Microtomography and improved resolution in cathodoluminescence microscopy using confocal mirror optics
10.1063/1.1790551
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Chan, D.S.H., Liu, Y.Y., Phang, J.C.H., Rau, E., Sennov, R., Gostev, A.V. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/56631 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Cathodoluminescence microscopy of semiconductor devices using a novel detector with high collection and backscattered electron rejection efficiency
بواسطة: Phang, J.C.H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Design and characterisation of a single-reflection, solid-state detector with high discrimination against backscattered electrons for cathodoluminescence microscopy
بواسطة: Pey, K.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
New method for the localization of metallization defects using cathodoluminescence imaging
بواسطة: Liu, X., وآخرون
منشور في: (2014) -
Cathodoluminescence contrast of localized defects part II. Defect investigation
بواسطة: Pey, K.L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Correlation of scanning thermal microscopy and near-field cathodoluminescence analyses on a blue GaN light emitting device
بواسطة: Heiderhoff, R., وآخرون
منشور في: (2014)