Determining the interfacial toughness of low-k films on Si substrate by wedge indentation: Further studies

10.1016/j.actamat.2007.10.051

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書目詳細資料
Main Authors: Yeap, K.B., Zeng, K., Chi, D.
其他作者: MECHANICAL ENGINEERING
格式: Article
出版: 2014
主題:
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/59890
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