Direct method for the extraction of diffusion length and surface recombination velocity from an EBIC line scan: planar junction configuration

• المؤلفون الرئيسيون: Chan, Daniel S.H., Ong, Vincent K.S., Phang, Jacob C.H.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/62049

10.1109/16.381995