Reliability characterization of organic ultra low k film using ramp voltage breakdown

• المؤلفون الرئيسيون: Krishnamoorthy, A., Murthy, B.R., Yiang, K.Y., Yoo, W.J.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: Conference or Workshop Item
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/71606
• المؤسسة: National University of Singapore

Proceedings - Electrochemical Society