Evaluation of electrical stress effects on SiO2-Si structures using scanning electron microscope cathodoluminescence
10.1063/1.122803
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| 格式: | Review |
| 出版: |
2014
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| 在線閱讀: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/81818 |
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| 總結: | 10.1063/1.122803 |
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