Boundary condition and initial value effects in the reaction-diffusion model of interface trap generation/recovery

10.1088/1674-4926/30/7/074008

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Luo, Y., Huang, D., Liu, W., Li, M.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82020
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore