NiSi2 formation through annealing of nickel and dysprosium stack on Si(100) and impact on effective Schottky barrier height

10.1063/1.4772710

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Lim, P.S.Y., Chi, D.Z., Zhou, Q., Yeo, Y.-C.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: مقال
منشور في: 2014
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82764
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore