AES analysis of silicon nitride formation by 10 keV N+ and N+ 2 ion implantation
10.1016/S0042-207X(96)00220-5
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| 格式: | Article |
| 出版: |
2014
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| 在線閱讀: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95738 |
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| 機構: | National University of Singapore |