Characterization of spin coated YSZ thin films by Raman spectroscopy, x-ray diffraction and scanning electron microscopy
Yttria Stabilized Zirconia (YSZ) thin films (<10 >um) were fabricated by spin coating technique on three different substrates namely, silicon (Si), silica (SiO2) and steel (Fe/ Cr18 Ni10). Parameters such asd sintering temperature, thickness of the YSZ films, kind of substrates and concentrati...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | text |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Animo Repository
2010
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://animorepository.dlsu.edu.ph/etd_bachelors/2551 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|