Applications of higher-order phase shifting algorithms for multiple-wavelength metrology
Multiple-wavelength interferometric techniques have been successfully used for large step-height and large deformation measurements. Also it could resolve the step height between smooth and rough surfaces which is not possible with single wavelength interferometry. Temporal phase shifting algorithm,...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Upputuri, Paul Kumar, Pramanik, Manojit |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Chemical and Biomedical Engineering |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2019
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/104906 http://hdl.handle.net/10220/49473 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Phase shifting white light interferometry using colour CCD for optical metrology and bio-imaging applications
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2018) -
Multi-colour microscopic interferometry for optical metrology and imaging applications
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2016) -
Simultaneous profiling of optically smooth and rough surfaces using dual-wavelength interferometry
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2021) -
Phase retrieval in two-wavelength DSSI using a combined filtering method
بواسطة: Tay, C.J., وآخرون
منشور في: (2014) -
RGB speckle pattern interferometry for surface metrology
بواسطة: Upputuri, Paul Kumar, وآخرون
منشور في: (2021)