Gate-all-around nanowire FET sensors with ultrahigh sensitivity and low noise
In this research work, new kinds of field-effect transistor (FET)-based sensing elements were developed to maximize the detection limits of conventional piezoresistors. These sensing elements were able to enhance the piezoresistive sensitivity and reduce the intrinsic noise, which significantly impr...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Pushpapraj Singh |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Miao Jianmin |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
اللغة: | English |
منشور في: |
2012
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/50676 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Gate-all-around silicon nanowire FET modeling
بواسطة: Chen, Xiangchen
منشور في: (2014) -
Piezoresistive sensing performance of junctionless nanowire FET
بواسطة: Singh, Pushpapraj, وآخرون
منشور في: (2013) -
Tunable piezoresistance and noise in gate-all-around nanowire field-effect-transistor
بواسطة: Singh, Pushpapraj, وآخرون
منشور في: (2013) -
Random telegraph signal noise in gate-all-around Si-FinFET with ultranarrow body
بواسطة: Lim, Y.F., وآخرون
منشور في: (2014) -
Gate-all-around vertical silicon nanowire (GAA-VSiNW) fets : junction and threshold voltage engineering for optimum performance and scalability
بواسطة: Lu, Weijie
منشور في: (2017)