Stability of Al2O3 and Al2O3/a- SiNx:H stacks for surface passivation of crystalline silicon
10.1063/1.3264572
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Dingemans, G., Engelhart, P., Seguin, R., Einsele, F., Hoex, B., Van De Sanden, M.C.M., Kessels, W.M.M. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | SOLAR ENERGY RESEARCH INST OF S'PORE |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/113251 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
On the c-Si surface passivation mechanism by the negative-charge-dielectric Al2 O3
بواسطة: Hoex, B., وآخرون
منشور في: (2014) -
Surface passivation of phosphorus-diffused n +-type emitters by plasma-assisted atomic-layer deposited Al 2O 3
بواسطة: Hoex, B., وآخرون
منشور في: (2014) -
Numerical analysis of p+ emitters passivated by a PECVD AlO x/SiNx stack
بواسطة: Ma, F.-J., وآخرون
منشور في: (2014) -
The effect of light soaking on crystalline silicon surface passivation by atomic layer deposited Al2O3
بواسطة: Liao, B., وآخرون
منشور في: (2014) -
XAFS studies of Al/TiNx films on Si(100) at the Al K- and L3,2-edge
بواسطة: Zou, Z., وآخرون
منشور في: (2014)