Plastic deformation and failure analysis of phase change random access memory

• المؤلفون الرئيسيون: Hongxin, Y., Luping, S., Koon, L.H., Rong, Z., Jianming, Li., Guan, L.K., Chong, C.T.
• مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
• التنسيق: مقال
• منشور في: 2014
• الوصول للمادة أونلاين: http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82917
• المؤسسة: National University of Singapore

10.1143/JJAP.48.04C064