Channeling contrast microscopy of GaN and InGaN thin films
10.1016/S0168-583X(99)00336-5
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Osipowicz, T., Chiam, S.Y., Watt, F., Li, G., Chua, S.J. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | PHYSICS |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95945 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Channeling contrast microscopy on lateral epitaxial overgrown GaN
بواسطة: Teo, E.J., وآخرون
منشور في: (2014) -
2 MeV proton channeling contrast microscopy of LEO GaN thin film structures
بواسطة: Osipowicz, T., وآخرون
منشور في: (2014) -
Channeling contrast microscopy of epitaxial lateral overgrowth of ZnO/GaN films
بواسطة: Zhou, H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Incorporation of self assembled In-rich InGaN nanostructure to achieve redshift in InGaN/GaN heterostructures
بواسطة: Soh, C.B., وآخرون
منشور في: (2014) -
On the effect of N-GaN/P-GaN/N-GaN/P-GaN/N-GaN built-in junctions in the n-GaN layer for InGaN/GaN light-emitting diodes
بواسطة: Kyaw, Zabu, وآخرون
منشور في: (2014)