Characterization of striations in silicon wafers by a multipass Fabry-Perot Rayleigh-Brillouin scattering spectrometer

Journal of Materials Research

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書目詳細資料
Main Authors: Taijing, Lu, Ng, S.C.
其他作者: PHYSICS
格式: Article
出版: 2014
在線閱讀:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/95967
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