Spectroscopy and imaging of metal-organic interfaces using BEEM
10.1016/j.apsusc.2005.09.053
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Kunardi, L., Troadec, C., Chandrasekhar, N. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | PHYSICS |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/98889 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Ballistic emission spectroscopy and imaging of a buried metal-organic interface
بواسطة: Chandrasekhar, N., وآخرون
منشور في: (2014) -
BEEM studies of metal-organic interfaces
بواسطة: ZHENG YI
منشور في: (2010) -
STUDYING THE METAL/LAYERED SEMICONDUCTOR SCHOTTKY INTERFACE USING TEMPERATURE DEPENDENT CURRENT-VOLTAGE MEASUREMENTS AND BALLISTIC ELECTRON EMISSION MICROSCOPY
بواسطة: WONG PEI YU CALVIN
منشور في: (2018) -
Effective Schottky Barrier height reduction using sulfur or selenium at the NiSi/n-Si (100) interface for low resistance contacts
بواسطة: Wong, H.-S., وآخرون
منشور في: (2014) -
Technology options for reducing contact resistances in nanoscale metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
بواسطة: Yeo, Y.-C.
منشور في: (2014)