1
2
3
4
5
6
7
8
9
بواسطة Tan, G.S., Wong, C.-Y., Wong, T.Y., Govindasamy, C.V., Wong, E.Y., Yeo, I.Y., Aung, T.
منشور في 2014
احصل على النص الكاملمنشور في 2014
مقال
10
11
بواسطة Tong, L., Saw, S.-M., Chua, W.-H., Luu, C., Cheng, B., Yeo, I., Wong, E., Tan, D., Koh, A.
منشور في 2014
احصل على النص الكاملمنشور في 2014
مقال
12
13
14
15
بواسطة Cackett, P., Yeo, I., Cheung, C.M.G., Vithana, E.N., Wong, D., Tay, W.T., Tai, E.S., Aung, T., Wong, T.Y.
منشور في 2014
احصل على النص الكاملمنشور في 2014
مقال
16
17
18
19
20
Channel-width effect on hot-carrier degradation in NMOSFETs with recessed-LOCOS isolation structures
بواسطة Yue, J.M.P., Chim, W.K., Cho, B.J., Chan, D.S.H., Qin, W.H., Kim, Y.B., Jang, S.A., Yeo, I.S.
منشور في 2014
احصل على النص الكاملمنشور في 2014
Conference or Workshop Item