اكتمل التصدير — 

RF characterization and design of multi-TSV with embedded capacitor

This paper presents RF characterization and design of multi-TSV with embedded capacitor up to 10GHz. The capacitor is embedded around the TSV structure prior to Cu filling to utilize the vertical dimension, and thus improves the capacitance density and silicon area utilization. Here, the capacitance...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Panwar, Neeraj, Apriyana, Anak Agung Alit, Lin, Ye, Tan, Chuan Seng
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: Conference or Workshop Item
اللغة:English
منشور في: 2020
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/144081
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!