Highly selective and complete interconnect metal line and via/contact hole filling by electroless plating
US6660636
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | LI, SAM FONG YAU, NG, HOU TEE |
---|---|
مؤلفون آخرون: | CHEMISTRY |
التنسيق: | Patent |
منشور في: |
2012
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/32659 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
PROGRESSIVE FAILURE ANALYSIS OF FILLED HOLE CFRP PLATE IN COMPRESSION LOADING
بواسطة: Fatokah, Imam -
Electroless plating of noble metal nanoparticles for improved performance of silicon photodiodes via surface plasmon resonance
بواسطة: Blackwood, D.J., وآخرون
منشور في: (2014) -
Effect of carbon nanotubes and their dispersion on electroless Ni–P under bump metallization for lead-free solder interconnection
بواسطة: Hu, Xiao, وآخرون
منشور في: (2014) -
Comparison between electroplating and electroless plating method with inkjet printing for conductive line patterning
بواسطة: Wanida Tunyong
منشور في: (2013) -
Contact-displacement PD deposition for electroless copper application
بواسطة: Lau, Ping Ping
منشور في: (2009)