Design and performance of a new spectroscopic photon emission microscope system for the physical analysis of semiconductor devices
Review of Scientific Instruments
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Chan, D.S.H., Phang, J.C.H., Chim, W.K., Liu, Y.Y., Tao, J.M. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/62004 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
New spectroscopic photon emission microscope system for semiconductor device analysis
بواسطة: Liu, Y.Y., وآخرون
منشور في: (2014) -
Analysis and quantification of device spectral signatures observed using a spectroscopic photon emission microscope
بواسطة: Tao, J.M., وآخرون
منشور في: (2014) -
High-sensitivity photon emission microscope system with continuous wavelength spectroscopic capability
بواسطة: Tao, J.M., وآخرون
منشور في: (2014) -
Integrated (automated) photon emission microscope and MOSFET characterization system for combined microscopic and macroscopic device analysis
بواسطة: Ng, T.H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Spectroscopic observations of photon emissions in n-MOSFETs in the saturation region
بواسطة: Tao, J.M., وآخرون
منشور في: (2014)