Applications of scanning near-field photon emission microscopy
10.1109/IPFA.2009.5232566
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Isakov, D.V., Tan, B.W.M., Phang, J.C.H., Yeo, Y.C., Tio, A.A.B., Zhang, Y., Geinzer, T., Balk, L.J. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/69439 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Scanning near-field photon emission microscopy
بواسطة: Isakov, D., وآخرون
منشور في: (2014) -
Applications of scanning Near-field photon emission microscopy
بواسطة: Isakov, D., وآخرون
منشور في: (2014) -
Near-field detection of photon emission from silicon with 30 nm spatial resolution
بواسطة: Isakov, D., وآخرون
منشور في: (2014) -
Scanning near-field photon emission microscopy
بواسطة: ISAKOV DMITRY
منشور في: (2010) -
Determination of the local electric field strength by energy dispersive Photon Emission Microscopy
بواسطة: Geinzer, T., وآخرون
منشور في: (2014)