Electrical stress and failure analysis of power semiconductor devices
Power electronics' importance is expanding in both industry and society. It has the potential to dramatically increase the efficiency of electricity generation systems. They are crucial components of contemporary power electronics, not only for ordinary use, but also for severe environmen...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Chee, Sean Nicholas |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Wong Kin Shun, Terence |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
Nanyang Technological University
2022
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/158174 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Determination of carrier lifetime in power semiconductor devices
بواسطة: Goh, Chee Hiong.
منشور في: (2008) -
Reduced temperature electrical measurement of semiconductor devices
بواسطة: Ang, Derrick Jia Hao
منشور في: (2015) -
Study of silicon-carbide power semiconductor devices
بواسطة: Ng, See Hong.
منشور في: (2011) -
Analysis of semiconductor materials and devices
بواسطة: Guo, Boyang.
منشور في: (2011) -
Modelling and characterization of power semiconductor and electromechanical devices for the design of power electronics and drive systems
بواسطة: Tseng, King Jet.
منشور في: (2008)