Optimization of near-field scattering dielectric probe
This final year project report studies the parameters for the design of the scattering dielectric probe which consist of the metal coating used, type of mode used for the laser source and the geometry of the detector so as to find the optimal results for these parameters. The approach of the report...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Lim, Wei Wen |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Soh Yeng Chai |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
2010
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/40395 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Dielectric properties of nanostructure
بواسطة: Huang, Sai Feng.
منشور في: (2010) -
Fabrication and characterization of probes for near-field spectroscopy
بواسطة: Ng, Wei Yin Jenny
منشور في: (2009) -
Fringing effect on the measurement of permittivity of dielectric materials
بواسطة: Chen, Yi Quan.
منشور في: (2010) -
Fringing effect on the dielectric constant measurement: experiment and simulation
بواسطة: Tan, Yi Ling.
منشور في: (2011) -
Study of degradation mechanisms in SiON gate dielectric film subjected to negative bias temperature instability (NBTI) stress
بواسطة: Kang, Chun Wei.
منشور في: (2012)