Microstructural-property relationships of PZT
Characterization of pure and Pb(Y1/2Nb1/2)O3-doped Pb(Zr0.53/Ti0.47)O3 (PZT) with th morphotropic phase boundary composition has been undertaken in this study.
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Qiu, Wei. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Hng, Huey Hoon |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/5101 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Development and characterization of PZT thin films
بواسطة: Zhou, Min.
منشور في: (2008) -
Investigation of substrate texturing on the microstructure and magnetic properties of cobalt-based thin film disk for magnetic recording
بواسطة: Hing, Peter.
منشور في: (2008) -
Effects of varying mechanical deformation on the relationship between microtexture, mesotexture and current percolation in superconductors
بواسطة: Tan, Thiam Teck.
منشور في: (2008) -
Tribological and electrochemical properties of graphene
بواسطة: Francis Sunitha.
منشور في: (2011) -
Optical and optoelectronic properties of Si nanocrystals embedded in dielectric matrix
بواسطة: Ding, Liang
منشور في: (2009)